SARFUS: Zugang zur Nanowelt

Nanolane [1] ist ein französisches Unternehmen, das optische Lösungen im Nanometer-Maßstab anbietet und vermarktet. Die Wissenschaftler von Nanolane haben ein neues innovatives Verfahren entwickelt -SARFUS -, um die Analysemöglichkeiten von optischen Mikroskopen zu erweitern. Dadurch werden Beobachtungen in der Nanowelt vereinfacht.

 

 

 

Das Verfahren beruht auf einem Grundprinzip der mikroskopischen Analyse: höhere Präzision durch Verstärkung des Kontrasts. Je schwächer der Vordergrund des zu analysierenden Objekts, desto höher ist die Auflösung. So haben die Wissenschaftler nicht reflektierende Schichten – SURFS – entwickelt, die den Kontrast um ein 160faches erhöhen. Da es keine Laserstrahlabtastung gibt, kann man die Dynamik der nanometrischen Struktur in Echtzeit analysieren, wie z. B. die Kristallisation, die Benetzung, die chemische Oberflächenbehandlung, die Visualisierung von Bio-Chips, Kohlenstoffnanoröhrchen oder Langmuir-Blodgett-Schichten.

 

SARFUS wird des Weiteren von einer 3D-Bildverarbeitungssoftware ergänzt, die das optische Messen der Dicke oder des Rillenabstandes ermöglicht. Das Verfahren kann in vorhandene technologische Ausstattungen integriert werden, wie beispielsweise in die Rasterkraftmikroskopie, Profilometrie, Ellipsometrie, Raman-Faserlaser, Photoelektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie.

Eine Präsentation des SARFUS-Verfahrens, der SURFS-Schichten und der 3D-Bildverarbeitungssoftware steht unter folgendem Link zur Verfügung.

 

 

[1] Internetwebseite des Unternehmens Nanolane

 

Kontakt:

Rémi Corso, Wissenschaftler, Nanolane – Parc des Sittelles, 72450 Montfort-le-Gesnois, France – Tel: +33 2 43 54 09 01, E-Mail: remi.corso.nano@eolane.com

Redakteur:

Philippe Rault, philippe.rault@diplomatie.gouv.fr